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이미지 생성: # Invar36 WAAM 다중 소스 데이터 기반 JEPA–LNN–MPC 산업 등급 방법론 흐름도 --- ## 전체 목표 > Invar36 박막 부품 와이어 아크 적층 제조(WAAM)를 목표로, **다중 소스 데이터 → 물리적 골격 JEPA → LNN 잔류 역학 → 순방향 예측 → MPC 공정 계획**의 폐루프 방법을 구축하여 예측 가능한 거시적 형상 형성, 제어 가능한 박막 불안정성 및 계획 가능한 공정 매개변수를 달성합니다. --- ## I. 완전한 방법 및 실험적 폐루프 흐름도 (단일 이미지 표현) ``` ┌────────────────────────────────────────────────────────────┐ │ Invar36 WAAM 실험 시스템 │ │ 전류/전압 용융 풀 카메라 열전대 FEM 시뮬레이션 레이저 스캐닝 │ └───────────────┬───────────────────────────────┬──────────┘ │ │ ▼ ▼ ┌──────────────────────────┐ ┌─────────────────────────┐ │ 다중 소스 온라인 공정 데이터 x(t) │ │ 오프라인 결과 데이터 y_final │ │ I,V,용융 풀 이미지,T(t),FEM │ │ 최종 형상/윤곽/결함 │ └───────────────┬──────────┘ └──────────────┬──────────┘ │ │ ▼ │ ┌────────────────────────────────────────────────────────────┐ │ 다중 소스 데이터 전처리 및 동기화 정렬 모듈 │ │ • 신호